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| 2600A系列數(shù)字源表 | |||
| 2600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測量儀器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多 | |||
| 通道I-V測試系統(tǒng)的組成部分。對于桌面級(jí)的應(yīng)用，2600A系列提供一款嵌入式TSPExpress測試軟件，允許用戶 | |||
| 快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測試，無需編程或安裝軟件。對于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，2600A的TSP架構(gòu)和新增功能，例 | |||
| 如，并行測試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界zui高吞吐量，從而降低了測試成本。 | |||
| 2600A系列數(shù)字源表以性能的擴(kuò)展替代受歡迎的2600系列數(shù)字源表。因?yàn)?600A系列提供后向代碼兼容至 | |||
| 2600系列，所以客戶能用2600A系列簡易替換2600系列。 | |||
| 一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或 | |||
| 電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器代碼后向兼容2600系列數(shù)字源表，便于更換 TSP Express軟件工具 | |||
| 實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測試 精密定時(shí)和信道同步(<500ns) | |||
| 2600A系列特點(diǎn) | |||
| 263單通道系統(tǒng)數(shù)字源表，2636A雙通道系統(tǒng)數(shù)字源表 | |||
| 執(zhí)行并行測試，獲得無以倫比的吞吐量 | |||
| 20,000讀數(shù)/秒提供更快的測試時(shí)間和能力，捕捉器件瞬態(tài)性能 | |||
| 系列產(chǎn)品提供寬動(dòng)態(tài)范圍：1fA～10A和1µV～200V | |||
| TSP-Link總線支持每GPIB或IP地址多達(dá)32單元/64通道的通道擴(kuò)展 | |||
| 測試腳本處理器(TSP)以*的系統(tǒng)自動(dòng)化在儀器中執(zhí)行完整的測試程序(腳本) | |||
| USB端口用于保存數(shù)據(jù)和測試腳本 | |||
| LXI Class C兼容性提供高速數(shù)據(jù)傳輸并且實(shí)現(xiàn)快捷地遠(yuǎn)程測試、監(jiān)控和排錯(cuò) | |||
| 263和2636A主要指標(biāo) | |||
| 電壓測量 | |||
| 量程 | 顯示分辨率 | 輸入阻抗 | 準(zhǔn)確度(1年) |
| 23℃±5℃ | |||
| 200.000mV | 1µV | >1014Ω | ±(0.015%+225µV) |
| 2.00000V | 10µV | >1014Ω | ±(0.02%+350µV) |
| 20.0000V | 100µV | >1014Ω | ±(0.015%+5mV) |
| 200.000V | 1mV | >1014Ω | ±(0.015%+50mV) |
| 電流測量 | |||
| 量程 | 顯示分辨率 | 輸入端壓降 | 準(zhǔn)確度(1年) |
| 23℃±5℃ | |||
| 100.00pA | 1fA | <1mV | ±(0.15%+120fA) |
| 1.00000nA | 10fA | <1mV | ±(0.15%+240fA) |
| 10.0000nA | 100fA | <1mV | ±(0.15%+3pA) |
| 100.000nA | 1pA | <1mV | ±(0.06%+40pA) |
| 1.00000µA | 10pA | <1mV | ±(0.025%+400pA) |
| 10.0000µA | 100pA | <1mV | ±(0.025%+1.5nA) |
| 100.000µA | 1nA | <1mV | ±(0.02%+25nA) |
| 1.00000mA | 10nA | <1mV | ±(0.02%+200nA) |
| 10.0000mA | 100nA | <1mV | ±(0.02%+2.5µA) |
| 100.000mA | 1µA | <1mV | ±(0.02%+20µA) |
| 1.00000A | 10µA | <1mV | ±(0.03%+1.5mA) |
| 1.50000A | 10µA | <1mV | ±(0.05%+3.5mA) |
| 10.0000A | 100µA | <1mV | ±(0.4%+25mA) |
| 典型應(yīng)用 | I-V功能測試和特性分析， | ||
| 晶圓級(jí)可靠性測試， | |||
| 測試集成電路如RFIC、ASIC、SOC， | |||
| 測試光電器件如LED、VCSEL和顯示器， | |||
| 測試納米材料和器件。 | |||
| 附件提供 | |||
| 2600-ALG-2：帶鱷魚夾的低噪聲三同軸測試導(dǎo)線2m(2636A配2條，263配1條)， | |||
| 2600-IAC:安全互鎖適配器接頭， | |||
| CA-180-3A：TSP-Link/以太網(wǎng)線(每臺(tái)2條)， | |||
| TSP Express軟件工具(嵌入式)， | |||
| Test Script Builder軟件(CD內(nèi)提供)。 | |||
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