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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 泰克Tektronix示波器 > 數(shù)字示波器 > DSA8300泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300簡要描述:泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300是一款良好的等效時間采樣示波器,為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應(yīng)用提供Z高的保真測量和分析功能。關(guān)鍵性能指標,超低時基抖動:在同時采集的Z多 8 條通道上,典型值為 425 fs使用 82A04B 相位參考模塊時,在Z多 6 條通道上 <100 fsZ佳的垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器
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品牌 | TeKtronix/美國泰克 |
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泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300
DSA8300 是一款良好的等效時間采樣示波器,為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應(yīng)用提供zui高的保真測量和分析功能。
泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300關(guān)鍵性能指標
主要功能
1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。
2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。
應(yīng)用
杰出的性能,優(yōu)異的通用性
DSA8300 數(shù)字串行分析儀為開發(fā)和測試采用幾千兆位數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)的通信、計算機和消費電子提供了用途zui廣泛的工具。 它可以用來對這些產(chǎn)品中使用的器件、模塊和系統(tǒng)的光接口和電接口發(fā)射機進行檢定及*性測試檢驗。
此外,DSA8300 特別適合電接口信號路徑檢定,包括封裝、PCB 或電纜。 由于杰出的帶寬、信號保真度及可擴展性zui強的模塊化模塊,DSA8300 為當前和新興串行數(shù)據(jù)技術(shù)提供了zui高性能的 TDR 和互連分析能力、zui準確的信號損傷分析能力以及 BER 計算功能。
光接口眼圖測試
無源互連測試
zui后,由于杰出的信號保真度和分辨率,對要求超高帶寬、超精細垂直分辨率、低抖動和/或杰出時間間隔精度的電接口和光接口應(yīng)用,DSA8300 提供了黃金標準。
DSA8300 擁有*的測量系統(tǒng)保真度及zui低的基本儀器抖動本底(對 >1.25 Gb/s 的串行數(shù)據(jù)信號,典型值為 425 fs RMS),保證zui準確地同時采集zui多 8 個高帶寬信號。 使用相位參考模塊 (82A04B) 時采集抖動可低至 100 fs RMS,使分析效果更佳。
多處理器結(jié)構(gòu)及每插槽數(shù)字信號處理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率,縮短了進行可靠的檢定和*性測試所需的測試時間。
DSA8300 的通用模塊化結(jié)構(gòu)支持大量的且不斷增加的插件,您可以為測量系統(tǒng)配置各種您當前應(yīng)用和未來應(yīng)用的電接口模塊、光接口模塊和附件模塊。 DSA8300 提供了 6 個模塊插槽,可以同時容納一個時鐘恢復(fù)模塊、一個精密相位參考模塊和多個電接口或光接口采集模塊,可以讓系統(tǒng)性能與不斷演變的需求相適應(yīng)。 由于能夠在不斷電的情況下插拔采樣模塊,DSA8300(適用于固件版本為 6.1 及以上的示波器)可以根據(jù)測試需求變化,更加靈活地配置 DSA8300。
該電接口模塊系列擁有業(yè)內(nèi)的信號保真度,包括 20 GHz 到 >70 GHz 的帶寬性能,光接口模塊支持從 125 Mb/s 到 100 Gb/s 以上的光接口測試,提供了超過 80 GHz 的光接口帶寬。 DSA8300 支持所有傳統(tǒng)的 8000 系列電接口和光接口采樣模塊和附件。1
此外,模塊配套功能,如單端和差分電學時鐘恢復(fù)、電接口采樣器靜電保護及連接流行的 TekConnect® 探測系統(tǒng),在高阻抗探測和差分探測中提供了*的泰克探頭性能。 另外,還提供用于 50 Ω 探測和 TDR 探測的低阻抗探頭。
DSA8300 及相關(guān)應(yīng)用軟件完善的測量和分析功能進一步增強了 DSA8300 及其采樣模塊和附件的原始采集性能。 例如,IConnect® 應(yīng)用軟件為無源電接口互連(封裝、印刷電路板、背板、電纜等)提供了完整的 TDR、S 參數(shù)和信號完整性分析,80SJNB 應(yīng)用軟件則為光接口和電接口串行數(shù)據(jù)鏈路提供了完整的抖動、噪聲和誤碼率分析及通道和均衡分析和仿真功能。
1 DSA8300 不支持 80A06 碼型同步模塊,這一功能已經(jīng)被 DSA8300 集成高級觸發(fā)選項(選項 ADVTRIG)所代替。
抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析
抖動、噪聲和 BER 分析
三種軟件解決方案支持高速串行數(shù)據(jù)鏈路測量和分析:80SJARB、80SJNB Essentials 和 80SJNB Advanced。1
1 可以購買這些應(yīng)用軟件,安裝在現(xiàn)有的帶有 DSA83UP 升級套件的 DSA8300 示波器上。
SDLA 分析:SDLA Visualizer 和 JNB 信號路徑
SDLA Visualizer 的良好功能現(xiàn)在完善了 JNB 的信號路徑功能。通過提供完整的 4 端口反嵌,SDLA Visualizer 擴展了 JNB 信號路徑的反嵌和通道仿真功能,它不僅建立插入損耗效應(yīng)模型,還建立回波損耗和交叉耦合效應(yīng)模型。SDLA Visualizer 還完善了 JNB中的DFE/FFE 接收機均衡支持,并新增 CTLE 均衡建模功能。
SDLA Visualizer 與 JNB Advanced 中內(nèi)置的信號路徑功能一起運行。在配置 SDLA Visualizer、選擇所需的測試點、應(yīng)用模型后,該應(yīng)用程序會將選定測試點的濾波器自動加載到信號路徑濾波器模塊中。
如果要求 DFE 或 FFE 均衡,這些參數(shù)可以迅速輸入 JNB 信號路徑中,然后可以進行zui終測量。
這些只是 SDLA Visualizer 提供的多種功能的部分實例。詳情請參閱 SDLA Visualizer 產(chǎn)品技術(shù)資料:www.tektronix。。com。
分析任意數(shù)據(jù)的抖動 (80SJARB)
DSA8300 系列使用的 80SJARB 抖動測量應(yīng)用軟件適用于要求 J2 和 J9 抖動測量的 IEEE 802.3ba 應(yīng)用。 它還可讓您對 NRZ 數(shù)據(jù)信號進行基本抖動測量,包括 PRBS31、隨機性業(yè)務(wù)和加擾數(shù)據(jù)。 這提供了一種入門級抖動分析功能,支持簡單的 Dual Dirac 模型抖動分析,沒有碼型同步要求。
80SJARB 可在自由運行模式下連續(xù)采集數(shù)據(jù),其采集和更新速率均超過了 IEEE 規(guī)定的 10,000 個數(shù)據(jù)點的zui低要求。
它為測得數(shù)據(jù)和推斷數(shù)據(jù)提供了抖動和眼圖張度浴缸曲線,為采集數(shù)據(jù)提供了直方圖。
80SJARB 抖動分析測量
測量 | 說明 |
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J2 | BER = 2.5e-3 時的總抖動 |
J9 | BER = 2.5e-10 時的總抖動 |
Tj | BER = 2.5e-12 時的總抖動 |
DJdd | 確定性抖動(Dual Dirac 模型) |
RJdd | 隨機性抖動(Dual Dirac 模型) |
80SJNB 抖動分析測量
測量 | 說明 |
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TJ@BER | BER 時的總抖動 |
J2 | BER = 2.5e-3時的總抖動 |
J9 | BER = 2.5e-10時的總抖動 |
RJ | 隨機抖動 |
RJ(h) | 隨機性抖動的水平分量 |
RJ(v) | 隨機抖動的水平成分 |
RJ(d-d) | 根據(jù) Dual Dirac 模型得出的隨機抖動 |
DJ | 確定性抖動 |
DDJ | 數(shù)據(jù)相關(guān)抖動 |
DDPWS | 數(shù)據(jù)相關(guān)脈寬收縮量 |
DCD | 占空比失真 |
DJ(d-d) | 在 Dual Dirac 模型中計算得出的確定性抖動 |
PJ | 周期性抖動 |
PJ(h) | 周期性抖動的水平成分 |
PJ(v) | 周期性抖動的垂直成分 |
EO@BER | BER 下水平眼圖張開 |
BUJ | 有界不相關(guān)抖動 |
NPJ | 非周期性抖動(不相關(guān),有界) |
SSC 幅度 | SSC 調(diào)制幅度,單位:ppm |
SSC 頻率 | SSSC 調(diào)制頻率,單位:ppm |
80SJNB 噪聲分析測量
測量 | 說明 |
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RN | 隨機噪聲 |
RN(v) | 隨機噪聲的垂直成分 |
RN(h) | 隨機噪聲的水平成分 |
DN | 確定性噪聲 |
DDN1 | 邏輯電平 1 上的數(shù)據(jù)相關(guān)噪聲 |
DDN0 | 邏輯電平 0 上的數(shù)據(jù)相關(guān)噪聲 |
PN | 周期性噪聲 |
PN(v) | 周期性噪聲的垂直成分 |
PN(h) | 周期性噪聲的水平成分 |
EO@BER | BER 上的垂直眼圖張開 |
BUN | 有界不相關(guān)噪聲 |
NPN | 非周期性噪聲 |
80SJNB Advanced(選項 JNB02)
80SJNB Advanced(選項 JNB02) 支持:
TDR(時域反射儀)應(yīng)用
使用 80E10B 亞毫米分辨率和 IConnect® 真正阻抗輪廓,迅速識別問題的精確位置
DSA8300 是業(yè)內(nèi)性能zui高的全集成時域反射計 (TDR) 測量系統(tǒng)。 DSA8300 提供了高達 50 GHz 帶寬的及 15 ps 反射上升時間和 12 ps 入射上升時間的真正的差分 TDR 測量1,可以滿足當前zui苛刻的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA) 要求。
80E10B 和 80E08B TDR 模塊擁有全面集成的獨立雙通道 2m 遠程采樣器系統(tǒng),使夾具減到zui小,保證了*的系統(tǒng)保真度。 獨立采樣器偏移校正技術(shù)保證快速簡便地反嵌夾具和探頭。 通過使用一個差分模塊的 TDR 階躍驅(qū)動一個線對,同時使用第二個差分模塊監(jiān)測第二個線對,用戶可以檢定輸入串擾。
DSA8300 是業(yè)內(nèi)功能zui齊全的 TDR 測量系統(tǒng),包含至多 4 個雙通道真正差分 TDR 模塊,從而具有快速準確的多通道阻抗和 S 參數(shù)表征。
P80318 真正差分 TDR 探頭和 P8018 單端無源手持式 TDR 探頭為檢定電路板阻抗和電接口信號提供了高性能探測解決方案。 P80318 是一種 18 GHz 100 Ω 輸入阻抗差分 TDR 手持探頭,可以對差分傳輸線進行高保真阻抗測量。 可以調(diào)節(jié)的探頭間隙支持各種差分線路間距和阻抗。 P8018 是一種 20 GHz 單端無源手持式 TDR 探頭。 P80318 和 P8018 都可以作為獨立式探頭使用,它們都采用專門設(shè)計,可以與 80A02 EOS/ESD 模塊結(jié)合使用,提供 EOS/ESD 保護功能。
1 上升時間為 10-90%。 80E10B 的典型反射上升時間 <10 ps。
幾千兆位信號路徑檢定和分析 – 串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA)
串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析
隨著數(shù)字電路的時鐘速率和上升時間不斷提高,互連信號完整性對數(shù)字系統(tǒng)的性能影響非常大。 在時域和頻域中對信號路徑和互連進行準確高效的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA),對預(yù)測信號損耗、抖動、串擾、端接和振鈴、數(shù)字誤碼和眼圖劣化至關(guān)重要,以確保系統(tǒng)可靠運行。
泰克提供多個真正差分 TDR 模塊,這些模塊與 IConnect® 軟件相結(jié)合,可以以高達 –70 dB 的動態(tài)范圍進行 S 參數(shù)測量。 這種性能保證了在串行數(shù)據(jù)分析、數(shù)字設(shè)計、信號完整性和電接口*性測試應(yīng)用中進行準確的、可重復(fù)的測量。
裝有 IConnect® 軟件的 TDR 模塊性能
TDR 模塊 | S 參數(shù)測量帶寬性能 |
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80E10B | 50 GHz |
80E08B | 30 GHz |
80E04 | 20 GHz |
通過長記錄長度采集技術(shù),IConnect® 提供了巨大的靈活性,在執(zhí)行 S 參數(shù)測量時獲得了所需的頻率范圍和頻率階躍。 可以采集zui多 1,000,000 點數(shù)據(jù)。
在結(jié)合使用 IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數(shù)軟件及 DSA8300 時,您可以獲得高效、易用、經(jīng)濟的解決方案,基于測量數(shù)據(jù)評估幾千兆位互連鏈路和器件的性能,包括信號完整性分析、阻抗、S 參數(shù)和眼圖測試及故障隔離。
IConnect® 可以幫助您在幾分鐘內(nèi)、而不是幾天內(nèi)完成互連分析任務(wù),加快系統(tǒng)設(shè)計時間,降低設(shè)計成本。 IConnect® 還可以進行許多串行數(shù)據(jù)標準要求的阻抗、S 參數(shù)和眼圖*性測試,及對幾千兆位互連進行全面的通道分析、Touchstone (SnP) 文件輸出建模。
故障分析 – 迅速識別問題位置
80E10B 擁有 12 ps 的典型 TDR 上升時間,提供了杰出的分辨率,可以zui快、地隔離封裝、電路板和芯片故障分析應(yīng)用中的問題。
IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數(shù)軟件
IConnect® S 參數(shù)軟件在 DSA8300 TDR 平臺上運行,為數(shù)字設(shè)計、信號完整性分析和互連*性測試中的 S 參數(shù)測量提供了、吞吐量zui高的方式,與類似帶寬的 VNA 相比,可以節(jié)約高達 50% 的成本,明顯加快測量速度。
您還可利用 IConnect® S 參數(shù)軟件的命令行界面,在使用 TDR 儀器進行的整套制造測試中自動進行 S 參數(shù)測量,明顯縮短測試時間,提高測量可靠性。 可以使用參考源(開路、短路、直通)簡便地校準 S 參數(shù),并可以選配 50 Ω 負荷,輕松實現(xiàn)測量、夾具反嵌及移動參考平面。 Touchstone 文件格式輸出可以簡便地共享 S 參數(shù)文件,進一步進行數(shù)據(jù)分析和仿真。
泰克提供了多款真正差分 TDR 模塊,這些模塊與 IConnect® 相結(jié)合,提供了帶寬高達 50 GHz 及動態(tài)范圍 –70 dB 的 S 參數(shù)測量能力。 這一性能超越了串行數(shù)據(jù)分析、數(shù)字設(shè)計和信號完整性應(yīng)用的要求,串擾解析精度達到 1% (–40 dB),而電接口*性測試模板一般要求在 –10 至 –30 dB 的范圍內(nèi)進行測量。
IConnect® 軟件可讓您:
如需進一步了解 IConnect® 應(yīng)用軟件,請參閱“IConnect® 信號完整性、TDR 和 S 參數(shù) SW – 80SICMX ? 80SICON ? 80SSPAR”產(chǎn)品技術(shù)資料。
光接口測試應(yīng)用測量和分析工具
DSA8300 為滿足光接口測試應(yīng)用專門設(shè)計的各種測量和分析工具。除標準幅度和定時參數(shù)測量外(如上升時間/下降時間、幅度、RMS 抖動、RMS 噪聲、頻率、周期等)外,DSA8300 的測量套件還包括為測量光接口信號訂制的測量(平均光接口功率、消光比、眼圖高度、眼圖寬度、光接口調(diào)制幅度 (OMA)、等等)。如需完整的測量清單,請參閱本產(chǎn)品技術(shù)資料的測量部分。
DSA8300 包括從 155 Mb/s 至 100 Gb/s 所有常用光接口標準的標準*性測試模板。DSA8300 模板測試系統(tǒng)能夠自動把標準模板和用戶模板擬合到采集進波形數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)。模板測試系統(tǒng)還可以基于模板違例總數(shù)或模板違例相對于模板測試單位間隔中采集的樣點數(shù)的比率,自動確定模板余量。用戶還可以創(chuàng)建定制模板,自動進行模板測試。另外還提供了直方圖和光標測量,分析 DSA8300 采集的光接口信號。
zui后,80SJNB 應(yīng)用軟件支持全面分析光接口信號的抖動、噪聲和 BER。這一軟件的高級版本(選項 JNB02)支持評估有損傷的信號的加重和均衡。
產(chǎn)品分類
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